Im firmeneigenen Halbleiter-Messlabor führt AdMOS eine Vielzahl hochpräziser elektrischer Messungen durch, die als Grundlage für eine verlässliche Modellierung und Bauelementecharakterisierung dienen.

Unsere Messleistungen im Überblick:

• DC- und CV-Messungen
  Charakterisierung über einen weiten Temperaturbereich von -60 °C bis +205 °C, durchgeführt mit modernsten Keysight-Messsystemen für höchste Präzision.
• Messung des Niederfrequenzrauschens (LF-Noise)
  Erfassung von Rauschparametern für besonders empfindliche Analog- und RF-Anwendungen.
• 4-Port S-Parameter-Messungen
  Hochfrequenzanalysen auf Wafer- und Boardebene, ideal zur Verifikation von passiven und aktiven HF-Strukturen sowie Modellen.

Ausstattung

Für diese Messungen stehen zwei halbautomatische Probestationen zur Verfügung, die eine exakte Kontaktierung und stabile Messbedingungen gewährleisten:

• Suess PA200 – geeignet für Wafer bis 200 mm Durchmesser
• Cascade Microtech PA300 – geeignet für Wafer bis 300 mm Durchmesser

Weiterhin steht ein manueller Messplatz zur Charakterisierung auf Board-Ebene und für High-Speed Steckverbinder zur Verfügung.